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招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0613-254024160380
項(xiàng)目名稱：第三代半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
項(xiàng)目名稱（英文）：Third generation semiconductor testing system
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：上海機(jī)電設(shè)備招標(biāo)
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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